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   对不同材料在不同条件下进行测量,校准试块的材料越接近被测材料,测量就越理想的参考试块将是一组被测材料的不同厚度的试块,试块能提供仪器补偿校正因素(如材料的微观结构,热处理条件,粒子方向,表面粗糙等)。为了满足大精度测量的要求,一套参考试块将是在大部分情况下,只要使用一个参考试块就能得到令人满意的测量精度,这个试块应具有与被测材料相同的材质和相近的厚度.取均匀被测材料用千分尺测里后就能作为一个试块。
   对于薄材料,在它的厚度接近于探头测星下限时,可用试块来确定准确的低限。不要测量低于下限厚度的材料。如果一个厚度范围是可以估计的,那么试块的厚度应选上限值. 当被测材料较厚时,特别是内部结构较为复杂的合金等,应在一组试块中选择一个接近被测材料的,以便于掌握校准。 大部分锻件和铸件的内部结构具有方向性,在不同的方向上,其声速将会有少量的变化,为了解决这个问题,试块应具有与被测材料相同方向的内部结构,声波在试块中的传播方向也要与在被测材料中的方向相同。