红外测温探头（红外温度传感器）HE-205测温方法
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红外测温探头（红外温度传感器）HE-205用于一般工作环境中与计算机监测监控系统连接作为在线测试。它具有体积小、测温快速准确、防尘、防潮、使用方便等特点，可广泛应用烟草，食品，橡胶，造纸，塑料，包装，涂装，电气， 纺织，印刷，复合材料，设备配套等行业快速非接触地测量物体表面的温度，以达到温度控制或设备安全检测的目的。
红外测温探头可以不接触目标而通过测量目标发射的红外辐射强度计算出物体的表面温度。非接触测温是红外测温探头的最大的优点，使用户可以方便的测量难以接近或移动的目标。 HE-205红外测温探头为一体化集成式红外测温仪，传感器、光学系统与电子线路共同集成在金属壳体内；HE-205易于安装，金属壳体上的标准螺纹可与安装部位快速连接；同时时代瑞资HE-205还有各型选件（例如吹扫保护套、90°可调安装支架、三维可调安装支架、数字显示表等）以满足各种工况场合要求。红外测温探头又名红外温度传感器，也可称作固定式红外测温仪。
红外测温探头（红外温度传感器）HE-205测温方法 红外测温探头的设计有三种方法，通过测量辐射物体的全波长的热辐射来确定物体的辐射温度的称为全辐射测温法；通过测量物体在一定波长下的单色辐射亮度来确定它的亮度温度的称为亮度测温法；如果是通过被测物体在两个波长下的单色辐射亮度之比随温度变化来定温的称为比色测温法。 亮度测温法无需环境温度补偿，发射率误差较小，测温精度高，但工作于短波区，只适于高温测量。比色测温法的光学系统可局部遮挡，受烟雾灰尘影响小，测温误差小，但必须选择适当波段，使波段的发射率相差不大。 一般选用全辐射测温法来计算被测量物体的温度，全辐射测温法是根据所有波长范围内的总辐射而定温，得到的是物体的辐射温度。选用这种方法是因为中低温物体的波长较大，辐射信号很弱，而且结构简单，成本较低，但它的测温精度稍差，受物体辐射率影响大。
红外测温探头（红外温度传感器）HE-205的测温过程是精确度非常高的。当由非接触仪器测温时，被测物体发射出的红外能量，通过测温仪的光学系统在探测器上转换为电信号，该信号的温度读数显示出来，有几个决定精确测温的重要因素，最重要的因素是发射率、视场、到光斑的距离和光斑的位置。 发射率，所有物体会反射、透过和发射能量，只有发射的能量能指示物体的温度。当红外测温探头测量表面温度时，仪器能接收到所有这三种能量。因此，所有测温探头必须调节为只读出发射的能量。测量误差通常由其它光源反射的红外能量引起的。
红外测温探头可以不接触目标而通过测量目标发射的红外辐射强度计算出物体的表面温度。非接触测温是红外测温探头的最大的优点，使用户可以方便的测量难以接近或移动的目标。 HE-205红外测温探头为一体化集成式红外测温仪，传感器、光学系统与电子线路共同集成在金属壳体内；HE-205易于安装，金属壳体上的标准螺纹可与安装部位快速连接；同时时代瑞资HE-205还有各型选件（例如吹扫保护套、90°可调安装支架、三维可调安装支架、数字显示表等）以满足各种工况场合要求。红外测温探头又名红外温度传感器，也可称作固定式红外测温仪。
红外测温探头（红外温度传感器）HE-205测温方法 红外测温探头的设计有三种方法，通过测量辐射物体的全波长的热辐射来确定物体的辐射温度的称为全辐射测温法；通过测量物体在一定波长下的单色辐射亮度来确定它的亮度温度的称为亮度测温法；如果是通过被测物体在两个波长下的单色辐射亮度之比随温度变化来定温的称为比色测温法。 亮度测温法无需环境温度补偿，发射率误差较小，测温精度高，但工作于短波区，只适于高温测量。比色测温法的光学系统可局部遮挡，受烟雾灰尘影响小，测温误差小，但必须选择适当波段，使波段的发射率相差不大。 一般选用全辐射测温法来计算被测量物体的温度，全辐射测温法是根据所有波长范围内的总辐射而定温，得到的是物体的辐射温度。选用这种方法是因为中低温物体的波长较大，辐射信号很弱，而且结构简单，成本较低，但它的测温精度稍差，受物体辐射率影响大。
红外测温探头（红外温度传感器）HE-205的测温过程是精确度非常高的。当由非接触仪器测温时，被测物体发射出的红外能量，通过测温仪的光学系统在探测器上转换为电信号，该信号的温度读数显示出来，有几个决定精确测温的重要因素，最重要的因素是发射率、视场、到光斑的距离和光斑的位置。 发射率，所有物体会反射、透过和发射能量，只有发射的能量能指示物体的温度。当红外测温探头测量表面温度时，仪器能接收到所有这三种能量。因此，所有测温探头必须调节为只读出发射的能量。测量误差通常由其它光源反射的红外能量引起的。